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薄膜厚度檢測(cè)

橡膠制品與行業(yè)有差距?

配方分析,改善產(chǎn)品缺陷,提升產(chǎn)品性能?

產(chǎn)品出現(xiàn)如斑點(diǎn),油狀物,異物等副產(chǎn)物?


詳細(xì)介紹

薄膜厚度檢測(cè)是確保薄膜材料性能及質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié),尤其在光學(xué)、電子、包裝、半導(dǎo)體等領(lǐng)域,厚度參數(shù)的精確性直接影響產(chǎn)品的透光性、導(dǎo)電性、機(jī)械強(qiáng)度及功能穩(wěn)定性。本服務(wù)基于先進(jìn)的光學(xué)與機(jī)械測(cè)量技術(shù),結(jié)合國(guó)際通用的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),為客戶提供高精度、高效率的薄膜厚度檢測(cè)方案。  

檢測(cè)方法涵蓋非接觸式光學(xué)測(cè)量(如激光干涉法、白光干涉法、分光光度法)與接觸式機(jī)械測(cè)量(壓力式面接觸法),可滿足不同材質(zhì)(塑料、金屬鍍層、光學(xué)涂層等)及場(chǎng)景(實(shí)驗(yàn)室研究、工業(yè)在線檢測(cè))需求。其中,光學(xué)法具有快速、無(wú)損、精度高(可達(dá)納米級(jí))的優(yōu)勢(shì);機(jī)械法則適用于微觀不平整薄膜的仲裁檢測(cè),確保數(shù)據(jù)統(tǒng)一性。  

 

 檢測(cè)范圍  

1. 材料類型:  

   - 塑料薄膜(BOPP、PET、PE等)  

   - 光學(xué)薄膜(增透膜、反射膜、濾光膜)  

   - 半導(dǎo)體薄膜(硅基薄膜、金屬鍍層)  

   - 包裝材料(復(fù)合膜、阻隔膜)  

 

2. 厚度范圍:  

   - 機(jī)械法:0.1 μm – 5 mm(適用于仲裁檢測(cè))  

   - 光學(xué)法:1 nm – 1 mm(高精度非接觸測(cè)量)  

 

3. 適用場(chǎng)景:  

   - 實(shí)驗(yàn)室研發(fā)(如納米級(jí)光學(xué)涂層驗(yàn)證)  

   - 工業(yè)生產(chǎn)(在線厚度監(jiān)控與質(zhì)量管控)  

   - 質(zhì)量仲裁(符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)方法的權(quán)威檢測(cè))  

 

 

 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)  

1. GB/T 6672-2001  

   《塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定 機(jī)械測(cè)量法》  

   - 方法:壓力式面接觸法,采用恒定壓力(如1 kPa)與標(biāo)準(zhǔn)接觸面積,消除微觀起伏對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。  

   - 適用:塑料薄膜、包裝材料的仲裁檢測(cè)。  

 

2. ISO 4591:1992  

   《塑料 薄膜和薄片 機(jī)械掃描法測(cè)定厚度》  

   - 方法:機(jī)械掃描法,適用于連續(xù)測(cè)量薄膜厚度分布。  

 

3. ASTM E252-06  

   《用稱重法測(cè)定箔、薄膜和金屬片厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》  

   - 方法:通過(guò)單位面積質(zhì)量與材料密度換算厚度,適用于金屬鍍層與均質(zhì)薄膜。  

 

4. ISO 2808:2019  

   《色漆和清漆 漆膜厚度的測(cè)定》  

   - 方法:結(jié)合光學(xué)干涉儀或渦流儀,適用于涂層厚度檢測(cè)。  

 

 

 

 

 


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