涂層厚度是涂層產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo),對(duì)鍍層厚度的測(cè)量是評(píng)價(jià)鍍層產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范要求的一種重要手段。對(duì)涂層厚度進(jìn)行測(cè)量的方法主要有顯微鏡法、磁性法、渦流法、測(cè)微計(jì)法、超聲波測(cè)厚法等。
不同涂層厚度檢測(cè)方法之比較:
標(biāo)準(zhǔn)參考:
GB/T 1764-1979 漆膜厚度測(cè)定法
GBT 13452.2-2008 色漆和清漆 漆膜厚度的測(cè)定
GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測(cè)量 顯微鏡法
GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法
GB/T 4957-2003 非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 渦流法
GB/T 37361-2019漆膜厚度的測(cè)定 超聲波測(cè)厚儀法
ASTM B487-24 通過(guò)橫截面顯微鏡檢查測(cè)量金屬和氧化物涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM B499-09(2021)e1 用磁性法測(cè)量磁性基體金屬上的非磁性涂層的涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM D1005-95(2024) 使用千分尺測(cè)量有機(jī)涂層干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM E376-19 用磁場(chǎng)或渦流(電磁)試驗(yàn)方法測(cè)量涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
ASTM D6132-13(2022) 使用超聲波涂層測(cè)厚儀對(duì)有機(jī)涂層干膜厚度進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
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